• OLYMPUS HTHA探頭

OLYMPUS HTHA探頭

產品描述:
在探測高溫氫致(HTHA)缺陷的應用中,陣列式雙晶線性探頭和全聚焦方式(TFM)探頭可以提供更寬泛的掃描角度範圍和擴展的聚焦範圍,在使用較高的增益時,可以提高信號質量。

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使用高級技術探頭對高溫氫攻擊缺陷進行檢測

儘早探測到高溫氫攻擊(HTHA)損傷有助於避免石油、天然氣和石化設施的關鍵性高壓資產出現災難性的故障。

對資產狀況進行評估至關重要,不過要探測並評估高溫氫致(HTHA)缺陷,以傳統(UT)方式進行檢測,非常具有挑戰性。

為了應對挑戰,OLYMPUS研發一種專用於探測早期階段高溫氫攻擊(HTHA)損傷的探頭。解決方案包括陣列式雙晶線性(DLA)探頭、陣列式(PA)探頭和DLA探頭,經過微調的PA探頭可以進行全聚焦方式( TFM)檢測。

這些檢測方法與TOFD篩查結合起來,形成了一套完整的多技術檢測方案。

 

陣列式斜束探頭DLA

  • 高分辨率,10 MHz,32個晶片,雙晶陣列
  • 具有強大的聲束偏轉能力,可覆蓋更多的焊道區域和熱影響區(HAZ)
  • 其已獲專利的樞軸外殼可提供更長的聚焦範圍,從而可獲得更高的檢出率(POD)




結合零度楔型塊的DLA探頭(REX1)

  • 10 MHz,64個晶片,雙晶陣列
  • 聲束寬度覆蓋範圍高達30mm
  • 可以調節的穩固和硬質合金防磨裝置,可以緊密地貼合在外徑小至101.6mm的管道表面上
  • 整合型楔型塊可以覆蓋從4mm到95mm的厚度範圍
  • 與編碼器或掃描器搭配,可以提供清晰的C掃描圖像





全聚焦方式(TFM)探頭A31/A32

  • 包含多個微小晶片
  • 高頻率
  • 在探測高溫氫致(HTHA)缺陷時,可以充分發揮全聚焦方式(TFM)檢測的潛力



訂購訊息,請洽:愛光科技