軟性隱形眼鏡的基弧和厚度測量

測量軟性隱形眼鏡的基弧和厚度

背景：
在1970年代，我們率先將超音波測厚儀用於軟性隱形眼鏡的測試。通過超音波測厚儀，可以測量軟性隱形眼鏡的矢高以計算基弧，同時也能測量鏡片的厚度，避免了使用其他技術時可能因鏡片物理變形而引入的誤差。超音波測量快速、可重複且可靠，不受操作員解釋的影響。先進的38DL PLUS型號測量儀配備多層測量軟體，具有同時測量矢高和厚度的專用軟體，並能計算基弧。

推薦設備
測量儀：38DL PLUS型號，帶多層測量軟體選項
換能器：M316-SU，頻率為20MHz，元素直徑為0.125英寸
固定裝置：B-200隱形眼鏡固定裝置或同等設備

儀器及其功能
38DL PLUS
38DL PLUS是一款先進的超音波測厚儀，配備多層測量軟體選項，專為軟性隱形眼鏡的測量而設計。其主要功能包括：

同時測量矢高和厚度：該儀器能夠同時測量隱形眼鏡的矢高和厚度，並自動計算基弧。
高精度和重複性：超音波測量技術避免了因鏡片物理變形引起的誤差，確保了測量結果的精確和可重複。
快速和可靠：測量過程迅速且不受操作員主觀影響。

測量過程

安裝測量儀和換能器：將M316-SU換能器安裝到測量儀上。
準備鏡片：將軟性隱形眼鏡放置在B-200隱形眼鏡固定裝置中，確保其穩定。
校準儀器：使用已知厚度的標準樣品校準測厚儀。
進行測量：啟動測厚儀，同時測量矢高和厚度，儀器將自動計算基弧。
記錄數據：記錄測量結果，確保數據的準確性和完整性。

結論
超音波厚度測量技術為軟性隱形眼鏡的基弧和厚度測量提供了一個高效、可靠且精確的解決方案。38DL PLUS型號測量儀配備的多層測量軟體使得同時測量和計算變得簡單快捷。選擇合適的儀器和配件，能夠顯著提高測量的效率和精度。